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  • 呼和浩特鐵路局集包線GSM-R干擾測試

    測試時(shí)間:2016-08-11 14:52:28

    測試地點(diǎn):測試點(diǎn)位于JiNingNan站附近K4-K5區(qū)間(E113°5'34.9"東,N 41°1'42.1"北);

    測試人員:呼和浩特通信段、北京二十一世紀(jì)科技發(fā)展有限公司相關(guān)人員

    事件背景:

    此次干擾排查測試點(diǎn)位于JiNingNan站及站前廣場四周,該地點(diǎn)通過在后臺(tái)BSC網(wǎng)管監(jiān)測顯示一直出現(xiàn)4-5級(jí)上行干擾帶占比100%的情況,嚴(yán)重影響鐵路上行數(shù)據(jù)傳輸。

    干擾排查過程:

    針對(duì)該情況在此處首先利用IDA2干擾定向分析儀結(jié)合定向天線在車站廣場及站臺(tái)附件進(jìn)行空口無線測試,測試現(xiàn)場參見下圖

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    測試點(diǎn)現(xiàn)場圖(站臺(tái)廣場)

    隨后,通過通信段工程師和電務(wù)處及網(wǎng)管中心聯(lián)系溝通后,在該地點(diǎn)允許進(jìn)入通信機(jī)房利用機(jī)房設(shè)備進(jìn)行干擾排查測試,從而可以進(jìn)一步排查問題所在,此次進(jìn)入機(jī)房后,主要測試內(nèi)容為將測試接收機(jī)分別接入與DDPU兩路輸入相連的饋線,利用基站自身天饋系統(tǒng)進(jìn)行接收,從而排查是否存在外部干擾。測試結(jié)果參見下圖


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    測試點(diǎn)現(xiàn)場圖(站內(nèi)機(jī)房)

    使用干擾定向分析儀結(jié)合定向天線,在站臺(tái)廣場測得GSM-R上行頻段(885MHz-889MHz)結(jié)果如下圖所示:

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    測試點(diǎn)頻譜圖(870MHz-890MHz)(站臺(tái)空口測試)


    進(jìn)入站內(nèi)機(jī)房后,通過利用基站自身天饋系統(tǒng)進(jìn)行接收,使用測試設(shè)備分別對(duì)DDPU兩路通道輸入針對(duì)GSM-R上行(885MHz-889MHz)分別進(jìn)行測試,所測結(jié)果參見下圖:


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    測試點(diǎn)頻譜圖(870MHz-890MHz)(站內(nèi)機(jī)房DDPU第一通道測試)


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    測試點(diǎn)頻譜圖(870MHz-890MHz)(站內(nèi)機(jī)房DDPU第二通道測試)

    初步結(jié)論

    (1)通過“頻譜圖3-1”可以看出,在站臺(tái)廣場及集寧南站周邊進(jìn)行空口測試,GSM-R上行頻段底噪值在-98dBm以下,無線電磁環(huán)境正常。此處CDMA信號(hào)頻譜規(guī)則完整,并沒有出現(xiàn)雜散和信號(hào)拖尾干擾GSM-R上行頻段的情況。


    (2)進(jìn)入機(jī)房內(nèi)后,將測試設(shè)備與DDPU第一通道相連的饋線相連,利用基站自身的天饋系統(tǒng)進(jìn)行接收。通過“頻譜圖3-2”可以看出,GSM-R上行頻段的測試結(jié)果與外部儀表自身接收的測試結(jié)果基本一致,未發(fā)現(xiàn)有外部干擾情況。


    (3)將測試設(shè)備與DDPU第二通道相連的饋線相連,利用基站自身的天饋系統(tǒng)進(jìn)行接收。通過“頻譜圖3-3”可以看出,GSM-R上行頻段與外部空口測試結(jié)果基本一致,也未發(fā)現(xiàn)外部干擾情況。


    結(jié)合以上測試步驟及相關(guān)測試結(jié)果可以看出,該地點(diǎn)通過無線空口測試以及進(jìn)入通信機(jī)房后測試設(shè)備與基站兩路天饋系統(tǒng)相連測試的結(jié)果相一致,測試結(jié)果均表明無線電磁環(huán)境良好,并且該地點(diǎn)并未設(shè)置直放站,故也不存在直放站帶來的上行干擾,說明此處干擾不是由外部干擾造成。同時(shí)在測試過程中發(fā)現(xiàn),當(dāng)斷開基站DDPU與天饋系統(tǒng)主通道時(shí),設(shè)備并不上報(bào)駐波告警,建議設(shè)備廠家詳細(xì)檢查基站主設(shè)備。

    此次通過利用干擾分析儀與雙雙工單元(DDPU)相連的兩路通道直連進(jìn)行測試,也可以看出基站天線至DDPU輸入部分正常,結(jié)合BCS網(wǎng)管監(jiān)測顯示一直存在上行4-5級(jí)干擾帶占比較高,懷疑為基站自身器件性能異常導(dǎo)致。故建議測試DDPU單元、DTRU單元及DDPU至DTRU之間鏈路,排除器件性能惡化及故障造成的互調(diào)干擾及載頻問題。



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